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磁性法和渦流法測量涂鍍層厚度原理
來源:時代集團 發(fā)布日期:2012-06-20 11:41:03
渦流法(非磁性金屬集體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量)
1.標(biāo)準:GB/T 4957─1985,本標(biāo)準規(guī)定了使用渦流儀器無損測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法,該方法適用于測量大多數(shù)陽極氧化覆蓋層的厚度,但不適用于測量所有薄的轉(zhuǎn)化膜。
2.測量原理:渦流測厚儀的測厚裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場,使置于測頭下面的導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與側(cè)頭之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)。
磁性法(磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量)
1.標(biāo)準:GB/T 4956─1985,本標(biāo)準規(guī)定了使用磁性測厚儀器無損測量磁性金屬基體上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆蓋層厚度的方法,該方法適用于平試驗上的測量,不適用于非磁性基體上覆蓋層的測量。
2.測量原理:磁性測厚儀是測量永久磁鐵(側(cè)頭)和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化,或者是測量通過覆蓋層與基體金屬磁路磁助的變化。
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